CHINAISTI 苏试宜特能为您做什么？

高/低温操作寿命 (High/Low Temperature Operation Life Test)时程较长，苏试宜特除建置大产能的实验设备(Chamber)外并因应产品需求提供不同功耗(up to 150W)验证平台，协助您完成相关测试。

对于不同产品属性也有相对应的测试方法及条件，如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRB(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test)等试验手法。
上述各项实验条件，均需要施加电源或信号源，使得组件进入工作状态或稳态，经由电压、温度、时间等加速因子(Acceleration Factor)交互作用下，达到材料老化的效果，并从试验结果计算出预估产品的故障率、MTTF(Mean Time To Failure)及FIT(Failure In Time)。