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失效分析

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I-V 电特性量测 (I-V Curve)

I-V Curve 电特性量测原理是 ,利用自动曲线追纵仪电特性量测的方式,快速计算阻值,藉此确认各脚位(Pin)关系并实时筛检出异常(Open / Short),另可产出曲线图文件。

CHINAiSTI 苏试宜特能为您做什么?

提供DC组件及导体组件特性量测、电性失效分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)、测I-V、量曲线及曲线绘图(IV Curve),其特点是可一次量测样品各脚位的阻値差异,脚数最多达最多256 Pins 。

苏试宜特服务优势

1
支持度高,建置多种封装形式的Socket。
2
快速便利,可快速比对出电性异常的脚位,并分类故障原因。
3
弹性量测方式,有多种量测模式可选择。(EX: Pin-all, Pin-pin)。

案例分享

  • 曲线图文件
  • 自动比对结果
  • 可产出曲线图文件

  • 完成实验后可自动比对结果,分类异常状况(O/S)并确认好坏品的差异。

  • 设备描述

设备极限

最多256 Channels、最高电压200 V、电流限制500mA。

联络窗口

中国免费咨询电话 : 800-988-0501    Email: marketing_cn@chinaisti.com


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