透过OM显微镜下,利用一般点针(Prober),搭接于芯片内部线路,使其可以外接各类电性量测设备,以输入信号及量测电性曲线。
CHINAiSTI 苏试宜特能为您做什么?
借助点针(Prober)进行电性量测,对于半导体组件失效分析,均能提供直接且快速的信息。
可依据不同需求,搭配多种设备进行量测。
可在不同的包装下进行量测,例如BGA Ball, Pad, FIB Pad
Vgs 对Ids的曲线图,当晶体管的Vds电压固定时,变动Vgs则Ids亦会改变,可以得到一条Vgs 对Ids的曲线图。此曲线可以研究在信道中的载子(电子或电洞)是如何被提升到传导带,而信道形成的临界电压及线性区的临界电压都可以被测得,可研究晶体管相当重要的特性曲线。
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