超声波扫瞄 (SAT 检测)-超声波扫瞄 (SAT 检测)-苏试宜特

超声波扫瞄 (SAT 检测)

超声波显微镜(SAT)，原理是藉由超声波于不同密度材料之反射速率及能量不同的特性，来进行分析。利用纯水当介质传递超声波信号，当信号遇到不同材料的接口时，会部分反射、部分穿透，机台就会接收这些信号组成影像。

CHINAiSTI 苏试宜特能为您做什么？

SAT超声波可用来检测芯片组件内部不同位置的脱层(Delaminaiton)、裂缝(Crack)、气洞及粘着状况，多用于检查芯片封胶内的缺陷。

1: 不同的样品其适用的检测探头不同，苏试宜特拥有目前全台湾最完整的探头组合，从低频15 Mhz至高频110 Mhz及更高阶的UHF(230MHz)超高频探头，可满足不同封装型式的芯片检测。

不同的探针头可运用在不同的封装型式产品，如下

15 Mhz – DIP , PLCC , TO, QFP

25 Mhz – DIP , PLCC , TO, QFP

30 Mhz – BGA , SOP8 , QFP , SOT223 , TO252

35 Mhz – BGA , SOP8 , QFP , SOT223 , TO252

50 Mhz – QFN , TQFP, DFN, BGA

75 Mhz – TSSOP , Flash

100 Mhz – Wafer , Flip Chip

110 Mhz – Wafer , Flip Chip

120 Mhz – Wafer , Flip Chip , WLCSP

180 Mhz – Wafer , Flip Chip , WLCSP

230 Mhz – WLCSP , 3D IC

UHF – CMOS , WLCSP

SONOSCAN GEN 6

SONOSCAN D9600

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